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Process Capability
品質のばらつきが規格内に収まっているか
規格上限・規格下限・平均値・標準偏差から、工程能力指数Cp・Cpkと、QC管理図の中心線・上方管理限界・下方管理限界をまとめて計算します。
01 — 工程能力指数(Cp・Cpk)
規格上限・規格下限と、実際の測定データから求めた平均値・標準偏差を入力してください。
品質規格として許容される上限値
品質規格として許容される下限値
測定データの平均値
測定データのばらつき(標準偏差)
Cp(工程能力指数)
—
(規格上限 - 規格下限) ÷ 6σ
Cpk(かたよりを考慮した工程能力指数)
—
min[(規格上限-平均値)÷3σ, (平均値-規格下限)÷3σ]
02 — QC管理図(管理限界線)
平均値・標準偏差は上記01の値を使用します(中心線±3σで管理限界を設定する一般的な方式)。
中心線(CL)
—
平均値
上方管理限界(UCL)
—
平均値 + 3σ
下方管理限界(LCL)
—
平均値 - 3σ
工程能力指数(Cp・Cpk)とは、製品の品質規格(規格上限・規格下限)に対して、実際の製造工程のばらつきがどれだけ余裕を持って収まっているかを数値化した指標です。Cpは、規格の幅(規格上限-規格下限)を、工程のばらつき(標準偏差の6倍、統計的にほぼ全データが収まる範囲)で割った値で、工程がちょうど規格の中心にあることを前提とした「潜在的な」工程能力を示します。しかし実際の工程では、平均値が規格の中心からズレている(かたよっている)ことも多いため、そのかたよりも考慮したCpkがより実践的な指標として使われます。一般的にCp・Cpkが1.33以上であれば工程能力は十分、1.00未満であれば不良品が発生しやすい状態とされます。あわせて使われるQC管理図(管理限界線)は、工程が統計的に安定した状態を保っているかを日々のデータでチェックするための基準線です。
Cpに比べてCpkが大幅に低い場合、工程のばらつき自体は規格の幅に対して十分小さい(Cpは良好)にもかかわらず、平均値が規格の中心から大きくズレている(かたよっている)ことを意味します。工程の調整(芯出し)によって平均値を規格の中心に近づけることで、Cpkを改善できる可能性があります。
いいえ、絶対に出ないわけではありません。Cp・Cpk 1.33は統計的に不良率が非常に低い水準であることを示す目安ですが、あくまで確率的な指標であり、突発的な異常や工程の変化があれば不良は発生し得ます。継続的な工程監視(QC管理図など)とあわせて運用することが重要です。
データが正規分布に従うと仮定した場合、平均値±3σ(標準偏差の3倍)の範囲に、理論上約99.73%のデータが収まるとされています。規格の幅をこの±3σ(合計6σ)の範囲と比較することで、工程がどれだけ規格内に収まりやすいかを評価するのが工程能力指数の考え方です。
管理限界線(平均値±3σ)を超えるデータは、偶然のばらつきの範囲を超えた「異常な変動」のサインとされます。原因(材料の変更、設備の不調、作業者の変化など)を速やかに調査し、必要に応じて工程を停止して原因を特定・是正することが求められます。
はい。規格の幅(規格上限-規格下限)が狭いほど、同じばらつき(標準偏差)でもCp・Cpkは低く算出されます。精密部品など規格が厳しい製品では、工程のばらつき自体を小さくする改善(設備の精度向上、作業の標準化など)がより重要になります。
Cp:(規格上限 - 規格下限) ÷(6 × 標準偏差)
Cpk:min[(規格上限 - 平均値)÷(3 × 標準偏差), (平均値 - 規格下限)÷(3 × 標準偏差)]
中心線(CL):平均値
上方管理限界(UCL):平均値 + 3 × 標準偏差
下方管理限界(LCL):平均値 - 3 × 標準偏差
目安:Cp・Cpkが1.67以上で非常に高い工程能力、1.33以上で十分、1.00未満は工程能力不足とされることが一般的です。
※本ツールの計算結果は目安です。工程能力指数の判定基準は業種・製品によって異なります。実際の品質管理・規格の見直しは、統計的な検定や現場の実態もあわせてご確認ください。最終更新日:2026年8月18日。